2025年3月20日，由中国仪器仪表学会分析仪器分会主办的"质谱关键零部件技术研讨会"在IMI苏州工厂圆满落幕，近40位高校、科研院所及质谱仪器企业的专业人员参会，共同探讨质谱关键零部件的前沿技术与发展。

专业分享：质谱关键零部件设计结构和技术特点

IMI公司首席科学家 Aditya Wakhle 博士发表了题为《质谱倍增器技术及 SIMION 仿真软件导航：从基础到前沿研发中针对不同应用的选择》的精彩报告。作为原澳大利亚 ETP 公司的核心成员之一，他深入介绍了质谱倍增器在 GC/LC-MS（气相/液相质谱）、ICP-MS（电感耦合等离子体质谱仪）、TOF（飞行时间质谱）以及 RGA（残留气体分析仪）等不同类型质谱仪器上的设计结构和技术特点。

Kenneth Wright 博士，IMI 公司质谱部件研究经理，其参与研制的 RGA 成为自 1972 年以来首个登上月球的质谱仪。他分享了题为《通道式电子倍增器与增强型灯丝涂层在质谱应用中的耐用性研究》的主题报告，详细阐述了通道式电子倍增器的技术原理、测试数据、最新设计思路以及增强型灯丝在实际应用中的研究经验。

IMI 公司亚太区质谱核心部件技术研究与拓展经理赵秀苔女士，带来了《高压电源及其对质谱仪性能的影响》的专题讲解，剖析了高压电源在质谱仪中的关键作用及其对仪器性能的影响。

现场交流：技术探讨与互动

本次研讨会采用“技术报告 + 现场提问研讨”的形式。参会人员围绕报告内容及实际工作中遇到的技术难题踊跃提问，问题涉及“离子歧视效应”、“电子倍增器特定部件的设计缘由与作用”、“倍增器增益的测量方法”、“SIMION 仿真软件与其他软件的对比优势”、“不同材质倍增器的耐用性对比”、“耐用性提升方法及原因”、“增益测量稳定时间”等多个方面。IMI 专家团队对这些问题进行了深入且开放的解答交流，现场讨论气氛热烈。

会后，与会人员一同参观了 IMI 苏州工厂，实地了解了先进的生产设施与工艺流程。

本次研讨会是新冠疫情后中国仪器仪表学会分析仪器分会组织的第一场国际交流活动，旨在为产业链上下游交流搭建平台以及深入了解外企优秀的产品设计理念和设计经验。

鉴于本次活动报名踊跃，分会未来还将组织更多同类活动。敬请关注本分会官网（http://fxxh.cis.org.cn）或“中仪学分析仪器分会”微信公众号。